集成电路测试技术基础内容简介
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发布时间:2024-08-20 12:05
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时间:2024-08-30 14:23
《集成电路测试技术基础》是一本详尽的指南,分为三个主要部分:数字集成电路测试技术、模拟集成电路测试技术和数模混合集成电路测试技术。该书首先深入探讨了逻辑数字集成电路的测试方法,包括对时序数字电路的详细测试策略,并讲解了内嵌自测试的原理与实施步骤。在模拟集成电路测试技术部分,它提供了对模拟电路特性的理解和测试技巧。
混合信号测试技术是本书的亮点,特别配有一张DVD演示光盘,光盘内容着重于混合信号集成电路的测试原理和实践操作。它详细介绍了测试系统的硬件构成,连接方法,以及如何通过LabVIEW软件进行有效的操作,这些内容与书中的理论知识紧密结合,有助于读者更深入地理解测试技术的精髓。
无论你是集成电路测试领域的专业技术人员,还是微电子专业的本科生或研究生,《集成电路测试技术基础》都是一个宝贵的资源。它既涵盖了基础理论,又提供了实际操作的指导,是提升测试技能和理论知识的理想教材。