液晶空间光调制器波前常用的校准测量方式
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发布时间:2024-10-06 23:13
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时间:2024-11-17 12:21
在使用液晶空间光调制器(LCoS SLM)前,对其波前调制性能的校准至关重要。常用的测量方法包括功率计探测法、马赫—曾德干涉、径向剪切干涉和泰曼格林干涉,以及双孔干涉等。
首先,功率计直接探测法通过准直激光照射LCOS,反射光与调制后的光干涉,测量光强变化,但因非平行光导致精度不高,且结果是整个液晶层的平均值。
马赫-曾德干涉法利用干涉原理,通过测量干涉图的相对移动,适用于透射式LCOS,但对实验装置稳定性要求高。
径向剪切干涉则通过对比调制后与放大或缩小波面的干涉,能提供高精度,但波面畸变可能影响结果处理。Meadowlark Optics的SLM产品,如硅基LCoS,以其模拟电压寻址和高稳定性而知名。
Meadowlark Optics还开发了SLM干涉子孔径技术,修正像差,确保波前畸变低。昊量光电提供不同分辨率的SLM产品,用户可直接查询详细信息或咨询昊量先生获取更多详情。
校准和表征SLM性能的方法不断优化,以适应各种应用需求。如有疑问或需要进一步讨论,可在文章下方留言。原创内容未经许可,商业或非商业使用请注明出处。